一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 X荧光测厚仪测试要求：
工作要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
5 Max功率 ：330W
6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
8 仪器重量 ：55kg
9 分析软件EFP，可分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
常规镀层厚度分析仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，荧光测厚仪，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，南京测厚仪，β射线反向散射法，电镀测厚仪，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
X-RAY测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
3，测量厚度范围较广，
0.002um~100um左右，光谱膜厚仪，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。
4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。
6，可编程XYZ测量台及大移动范围。
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